Asistencia al congreso ims (INTERNATIONAL MICROWAVE SIMPOSIUM), anaheim, eeuu
Se realizará la asistencia al congreso IMS, también conocido como International Microwave Symposium MTT. Este congreso se celebrará en Anaheim (California, EEUU) del 23 al 28 de mayo de 2010.
Conferencia
Esta conferencia es la más importante a nivel mundial en el ámbito de las microondas, con un gran prestigio internacional (presentó un índice de rechazo en la pasada edición de más de 53%).
Trabajo presentado
Use of Ground Planes within the Spatial Images Technique: Application to the Analysis of Rectangular Multilayered Shielded Enclosures
En este artículo, se presenta una técnica para el cálculo de las funciones de Green relacionadas con cavidades rectangulares multicapas apantalladas. Para ello, se emplea una técnica basada en el dominio espacial que hace uso de cargas y dipolos imágenes para imponer las condiciones de contorno a los potenciales.
Como gran novedad, la técnica se combina con unos planos de masa dinámicos. De esta forma, las condiciones de contorno se imponen de forma exacta en aquellas paredes de la cavidad que se encuentran cerca de la fuente puntual, y de forma numérica aproximada en las paredes situadas lejos de la fuente.
El novedoso método ha sido introducido en un software de análisis de circuitos electromagnéticos, basado en la ecuación integral (IE) resuelta con el método de los momentos (MoM). El método propuesto ha resultado ser estable para todas las situaciones de fuente, resolviendo los problemas de estabilidad que la técnica presentaba anteriormente, y es además muy competitivo, siendo capaz de realizar el análisis de circuitos de microondas en menos de 0.5 segundos por punto frecuencial, velocidad claramente superior a la del software comercial que puede obtenerse en el mercado.
Finalmente, medidas experimentales se emplearon para validar el método propuesto.
Presentación
En el congreso se presentará el artículo (tiempo de 20 minutos, el máximo que otorga la organización), detallándose todos los pormenores técnicos del mismo.
Además, junto a la presentación del artículo, podré asistir a un gran número de conferencias de mi interés y ámbito de investigación, pues en este congreso se presentan los trabajos de mayor relevancia a nivel mundial.